Effetto del test di invecchiamento accelerato sui componenti elettronici

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Effetto del test di invecchiamento accelerato sui componenti elettronici

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Autore:Editor siti
Ora di pubblicazione: 2020-12-23
Origine:Sito
Applicare alta temperatura, elevata umidità e una certa corrente di azionamento al dispositivo optoelettronico per il test di invecchiamento accelerato. In base ai risultati del test, si può giudicare che i componenti elettronici hanno funzioni e funzioni perse, nonché accettazione e rifiuto, e possono regolare le condizioni di lavoro dei componenti optoelettronici e analizzare l'affidabilità.
 

Test di invecchiamento accelerato:
1. Test di invecchiamento accelerato ad alta temperatura: la cosa più basilare nel processo di invecchiamento accelerato è il tipo di stress ambientale ad alta temperatura. Durante l'esperimento, i parametri selezionati devono essere monitorati regolarmente fino a quando la degradazione supera la fine del ciclo di vita.

 
Test a temperatura costante:
Il test a temperatura costante è simile al test di funzionamento ad alta temperatura e il numero di campioni di prova a temperatura costante e il numero di guasti consentiti devono essere specificato.
 

 
Test di variazione della temperatura:
Il test di invecchiamento accelerato ad alta temperatura del cambiamento di temperatura consiste nell'aumentare gradualmente la temperatura in sequenza (ad esempio, 60 ° C, 85 ° C e 100 ° C).

 

 
Test del ciclo di temperatura:
Oltre al ciclo di temperatura per i componenti optoelettronici come test di stress ambientale, il ciclo di temperatura può anche accelerare l'invecchiamento dei componenti elettronici del tubo. Lo scopo dell'invecchiamento accelerato del ciclo di temperatura non è generalmente quello di causare il degrado di specifici parametri prestazionali, ma di fornire un'ulteriore spiegazione della stabilità meccanica a lungo termine del percorso ottico incapsulato nel componente.

 

 
Test di vibrazione di conversione della frequenza:
Determinare l'impatto delle vibrazioni su vari componenti di dispositivi optoelettronici all'interno della gamma di frequenza standard.

 

 
Si può vedere che è molto necessario condurre test di invecchiamento accelerato sui componenti elettronici. Può rilevare le carenze dei componenti elettronici nel processo di test ed esporre in anticipo le carenze del prodotto, abbreviando così il ciclo di sviluppo del prodotto e risparmiando tempo.
 

 


 
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Sanwood (HK) Industrial Corporation Limited
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